一种磁条卡信息读取集成电路的测试方法及测试电路与流程-尊龙凯时官方app下载

文档序号:36405466发布日期:2023-12-16 11:38阅读:21来源:国知局


1.本发明涉及电子电路技术领域,特别涉及测试电路及测试方法技术领域,具体是指一种磁条卡信息读取集成电路的测试方法及测试电路



背景技术:

2.磁条卡是一种卡片状的磁性记录介质,利用磁性载体记录字符与数字信息,用来标识身份或其它用途

磁卡由高强度

耐高温的塑料或纸质涂覆塑料制成,能防潮

耐磨且有一定的柔韧性,携带方便

使用较为稳定可靠

磁条卡使用方便,造价便宜,用途极为广泛,可用于制作信用卡

银行卡

地铁卡

公交卡

门票卡

电话卡;电子游戏卡

车票

机票以及各种交通收费卡等

3.磁条卡的广泛使用,使得磁条卡读取设备中的信息读取集成电路得到大批量应用,为了保证信息读取集成电路的品质,磁条卡信息读取集成电路的自动测试就显得尤为重要

集成电路的测试一般使用
ate(
自动测试设备
)
来完成,一般完成被测电路的
os(open-short)
开短路测试
、idd
电流测试以及漏电流测试等参数以及简单的模拟波形和数字波形测试

而对于磁条卡信息测试过程中,磁条周围的磁场切割磁头内部线圈而产生的复杂刷卡波形,
ate
无法直接产生和有效测试

实际测试时,只能借助于实际使用方案,通过刷卡设备测试解码功能,测试过程为人工,不能实现测试自动化,测试效率低

4.目前,针对磁条卡信息读取集成电路的测试,缺少实用性强

成本低廉的自动化测试方法,难以满足大批量生产中的量产测试需求,难以保证产品质量



技术实现要素:

5.本发明的目的是克服了上述现有技术中的缺点,提供一种能有效实现对磁条卡解码电路的解码功能

内部放大器增益
、idd
电流等参数进行测试,测试参数过程自动化,提高测试产能

降低测试成本的磁条卡信息读取集成电路的测试方法及测试电路

6.为了实现上述的目的,本发明的磁条卡信息读取集成电路的测试方法包括:利用示波器获取磁条卡刷卡波形,生成波形文件;从所述的波形文件中获取波形数据,并存储于
mcu
内部
flash
;通过所述
mcu

dma
控制器以可改变的时钟
clk
频率访问所述的波形数据获得可变幅度的输出波形;利用所述的
mcu

dac
将所述的输出波形转换为与所述波形数据幅度一致的模拟刷卡波形;将所述的模拟刷卡波形与被测电路的解码数据对比实现对于被测电路的解码功能测试

7.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法中,所述的利用示波器获取磁条卡刷卡波形,生成波形文件,具体为:用示波器抓取实际磁条卡刷卡波形,将抓取的波形以
.csv
格式存储为波形文件

8.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法中,所述的从所述的波形文件中获取波形
数据,并存储于
mcu
内部
flash
,具体为:从所述的波形文件将逻辑“1”和逻辑“0”所对应的波形分离出来,然后将幅度为
/-150mv
的波形转换为幅度为
0-150mv
的波形,再经计算后获得波形数据,将该波形数据存储于
mcu
内部
flash。
9.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法中,所述的将该波形数据存储于
mcu
内部
flash
,具体为:将获得的波形数据在程序编写阶段分配于
mcu

flash
存储单元,存储时将逻辑“1”和逻辑“0”所对应的波形数据分别存储于
flash
的不同地址

10.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法中,所述的通过所述
mcu

dma
控制器以可改变的时钟
clk
频率访问所述的波形数据获得可变幅度的输出波形,具体为:
mcu
通过内部
dma
控制器以一定时钟
clk
频率访问逻辑“1”和逻辑“0”所对应的所述波形数据,按照不同顺序和不同数量将逻辑“1”和逻辑“0”的波形数据加以排列组合,形成任意数据的测试波形,通过改变所述时钟
clk
频率可以改变测试波形的频率,所述
mcu
可以运算存储于
flash
的波形的幅度,以调整所述的测试波形的幅度

11.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法中,所述的利用所述的
mcu

dac
单元将所述的输出波形转换为与所述波形数据幅度一致的模拟刷卡波形;将所述的模拟刷卡波形与被测电路的解码数据对比实现对于被测电路的解码功能测试,具体为:
mcu
模块内部的
dma
控制器按照一定的时钟
clk
频率对所述
flash
进行寻址,并将所得波形数据传输到该
mcu
片上的
dac
单元,
dac
单元将所述的波形数据转换为幅度为
150mv
的模拟刷卡波形,通过外接的一阶低通滤波器送往信号调理电路,该信号调理电路将从所述的
dac
单元获得的模拟刷卡波形单端信号转换为幅度为
300mv
的差分信号后加载到被测磁条卡信息读取电路的差分输入端,该
mcu
通过被测电路的串行接口读取被测电路的解码数据,并判定是否与输入的波形数据一致

12.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法还包括:基于所述的模拟刷卡波形产生差分信号后,该差分信号经被测电路的内部放大器获得输出信号,实现对于被测电路内部放大器的增益测试

13.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法中,所述的实现对于被测电路内部放大器的增益测试,具体为:
mcu
模块内部的
dma
控制器按照一定的时钟
clk
频率对所述
flash
进行寻址,并将所得波形数据传输到该
mcu
片上的
dac
单元,所述的
dac
单元将所述的波形数据转换为幅度为模拟刷卡波形,通过外接的一阶低通滤波器送往信号调理电路,该信号调理电路将从所述的
dac
单元获得的模拟刷卡波形单端信号转换为幅度为
100mv
的差分信号后加载到被测磁条卡信息读取电路的差分输入端,从被测磁条卡信息读取电路内部放大器的输出端输出的
1khz
正弦波信号传输到
rms-dc
转换电路后,输出的直流信号送往
mcu
模块的片上
adc
单元,该
adc
单元测量直流信号后,利用所述的
rms-dc
转换电路的计算公式计算出被测磁条卡信息读取电路内部放大器的输出端的输出信号幅度,再将该输出信号幅度除以被测磁条卡信息读取电路内部放大器的输入信号幅度,得到了被测电路内部放大器的增益

14.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法还包括:通过
50
欧姆的采样电阻采样流经被测磁条卡信息读取电路的
idd
电流,流经采样电阻的电流形成的电压差经过缓冲电路和差分放大电路进入所述的
mcu
的片上
adc
单元,该
adc
单元采样电压后,计算出被测电路的
idd
电流,实现对于被测电路的
idd
电流测试

15.该磁条卡信息读取集成电路的测试方法还包括:在所述的解码功能测试

内部放
大器增益测试和
idd
电流测试中的一个或全部测试完毕后,所述的
mcu
通过分选机接口电路以特定时序与分选机通信,所述分选机按照时序将测试结果的电路放置于不同的料管或者料盘

16.本发明还提供一种磁条卡信息读取集成电路的测试电路,包括:电源模块和
mcu。mcu
用以将从所述的波形文件中获取波形数据存储于该
mcu
内部
flash
;用以通过所述
mcu

dma
控制器以可改变的时钟
clk
频率访问所述的波形数据获得可变幅度的输出波形;并利用所述的
mcu

dac
将所述的输出波形转换为与所述波形数据幅度一致的模拟刷卡波形;将所述的模拟刷卡波形与被测电路的解码数据对比实现对于被测电路的解码功能测试

17.该磁条卡信息读取集成电路的测试电路中,所述的
mcu

dma
控制器,还用以以一定时钟
clk
频率访问逻辑“1”和逻辑“0”所对应的所述波形数据,按照不同顺序和不同数量将逻辑“1”和逻辑“0”的波形数据加以排列组合,形成任意数据的测试波形,通过改变所述时钟
clk
频率可以改变测试波形的频率,所述
mcu
可以运算存储于
flash
的波形的幅度,以调整所述的测试波形的幅度

18.该磁条卡信息读取集成电路的测试电路中,所述的
mcu
还包括
dac
单元,该
dac
单元用以将所述的波形数据转换为幅度为
150mv
的模拟刷卡波形,通过外接的一阶低通滤波器送往信号调理电路,该信号调理电路用以将从所述的
dac
单元获得的模拟刷卡波形单端信号转换为幅度为
300mv
的差分信号后加载到被测磁条卡信息读取电路的差分输入端,该
mcu
通过被测电路的串行接口读取被测电路的解码数据,并判定是否与输入的波形数据一致

19.该磁条卡信息读取集成电路的测试电路中,所述的
dac
单元还用以将获得的模拟刷卡波形单端信号转换为幅度为
100mv
的差分信号后加载到被测磁条卡信息读取电路的差分输入端;该
mcu
模块还包括
adc
单元,从被测磁条卡信息读取电路内部放大器的输出端输出的
1khz
正弦波信号传输到
rms-dc
转换电路后,输出的直流信号送往该
adc
单元,该
adc
单元用以测量直流信号后,利用所述的
rms-dc
转换电路的计算公式计算出被测磁条卡信息读取电路内部放大器的输出端的输出信号幅度,再将该输出信号幅度除以被测磁条卡信息读取电路内部放大器的输入信号幅度,得到了被测电路内部放大器的增益

20.该磁条卡信息读取集成电路的测试电路还包括采样电阻,该采样电阻用以采样流经被测磁条卡信息读取电路的
idd
电流,流经该采样电阻的电流形成的电压差经过缓冲电路和差分放大电路进入所述的
mcu

adc
单元,该
adc
单元采样电压后,计算出被测电路的
idd
电流,实现对于被测电路的
idd
电流测试

21.该磁条卡信息读取集成电路的测试电路还包括分选机接口电路,在所述的解码功能测试

内部放大器增益测试和
idd
电流测试中的一个或全部测试完毕后,所述的
mcu
通过分选机接口电路以特定时序与分选机通信,所述分选机按照时序将测试结果的电路放置于不同的料管或者料盘

22.本发明利用示波器数字化真实刷卡波形,解决了刷卡波形无法产生的难题,此方法简单可靠

精度高,能完全记录实际刷卡波形的所有特征,包括波形频率

幅度和形状特征

实际产生的波形于与真实刷卡波形一致


mcu

dma
控制器访问波形存储于
flash
中的波形数据并驱动内部
dac
产生刷卡时的波形,可以产生不同的测试波形数据组合,测试波形的频率可变,模拟刷卡速度的快慢,
mcu
可以计算输出波形数据的大小从而改变输出波形的幅度,以上增加了磁条卡信息读取电路解码功能测试的测试覆盖率


mcu

dma
控制器访
问波形存储于
flash
中的波形数据并驱动内部
dac
产生正弦波,幅度和频率均可变,可以测试被测电路内部放大器的在不同频率

不同幅度下的增益

采用
rms-dc
转换电路,将被测电路输出的正弦波转换成于幅度成正比的
dc
直流信号,再通过
mcu
内部的
adc
采样转换后的直流信号,提高了对正弦波信号幅度的测试精度,进而提高了测试被测电路内部放大器的增益测试精度,同时也提高了测试被测电路解码功能和增益测试的稳定性,提升了测试良率

采用采样电阻和运放组成的
idd
测试电路,完成了被测电路
idd
电流测试,替代了测试费用昂贵的
ate(
自动测试仪
)。
23.综上,解决了
ate
不能测试磁条卡信息读取集成电路解码功能和放大器增益测试的难题,使用低成本的
mcu
测试方案实现整个测试过程完全自动化,提高测试的效率以及可靠性同时降低了测试成本,满足大批量的磁条卡信息读取集成电路的测试产能需求

附图说明
24.图1为本发明的测试原理框图

25.图2为本发明的测试波形产生及采样相关的
mcu
内部原理框图

26.图3为本发明的磁条卡刷卡磁头产生的输出波形

27.图4为本发明的刷卡测试波形获取方法框图

28.图5为本发明的测试波形信号调理电路

29.图6为本发明的测试波形信号调理电路输入和输出波形图

30.图7为本发明的
idd
电流测试电路图

31.图8为本发明的波形测试
rms-dc
转换电路图

32.附图标记:图1:
110-32bit mcu
模块
、120-分选机接口
、130-电源模块
、140-被测磁条卡信息读取集成电路
、150-rms-dc
转换电路
、160-测试波形调理电路
、170-idd
电流测量电路

33.图2:
210-32bit mcu
内核
、220-测试波形数据存储
flash、230-12bit
内置双通道
dac、240-dma
模块
、250-12bit
内置
adc。
34.图3:
310-磁条
、320-磁头输出波形
、330-解码后的数据

35.图4:
410-磁条卡及读取设备
、420-示波器
、430-u

、440-excel
软件

36.图5:
510-反向放大器
、520-一阶滤波器
、530-同相缓冲器
、540-隔直电容
、550-2.5v
直流偏置电路

37.图6:
610-信号调理电路输入波形
、620-信号调理电路输出波形正极性端
、630-信号调理电路输出波形负极性端

38.图7:
710-单位增益输入缓冲器
、720-差分放大器
、730-0.5v
直流偏置电路
、740-采样电阻开关

39.图8:
810-直流偏置电阻网络
、820-rms-dc
转换电路

具体实施方式
40.为了能够更清楚地理解本发明的技术内容,特举以下实施例详细说明

41.本发明的整个测试系统的工作流程如下:图1为被测磁条卡信息读取集成电路测试原理框图,电源模块
130
为测试系统中的各个模块提供电源, 32bit mcu
模块
110
通过片
内的
dma
控制器访问存储于片内
flash
的波形数据,并将数据传输到片内的
12 bit dac
,数模转换后的波形经过测试波形调理电路
160

dac
输出的单端信号经过一阶滤波平滑和单端信号转差分信号后连接至被测磁条卡信息读取电路
140
的输入端,被测磁条卡信息读取电路
140
根据输入的刷卡波形解码出“逻辑
1”和“逻辑
0”。
当产生的波形为正弦波时,输入被测磁条卡信息读取电路
140
的正弦波被内部的放大器放大,输出的正弦波波形经过
dc-rms
转换电路
150
将正弦波信号转换为直流信号, 32bit mcu 110
片内的
12bit adc
测量出直流信号并计算出相应正弦波信号的峰峰值幅度,除以输入信号的峰峰值幅度,就得到了被测磁条卡信息读取电路
140
内部放大器的增益

被测磁条卡信息读取电路
140

idd
电流流经
idd
电流测量电路
170

idd
电流测量电路
170
将采样电阻上的电流转换为电压,
32bit mcu 110
片内的
12bit adc
测量此电压并计算出
idd
电流值

42.具体实施测试波形的产生时,由于波形较为复杂,所以首先简要说明磁条卡的磁条分布

磁头输出波形

编码规则以及与波形对应解码后的数据

如图3所示,磁条卡上的磁条
310
区域上分布着不同的磁条组合,不同的磁条宽度,代表了磁条卡信息的“0”和“1”编码;当磁条卡以一定速度刷过读取设备的磁头时,磁条周围的磁场依次切割磁头内部线圈,就产生了磁头
320
输出波形,其输出波形较为特殊,相同磁极处切换处,磁头输出波形会产生尖峰,两个n极切换处会产生正的波形尖峰,两个s极切换处会产生负的波形尖峰

在一个时钟周期内有磁极转换对应的编码为逻辑“1”,在一个时钟周期内没有磁极转换对应的编码为逻辑“0”,具体编码如解码后的数据
330。
43.刷卡测试波形的获取,具体实施方法为:如图4所示,用示波器
420
将实际刷卡波形数字化,具体的,用示波器
420
的高精度模式采集实际磁条卡
410
刷卡波形,将波形以
.csv
格式存储于u盘
430
,实际采集波形时,示波器
420
设置为交流耦合输入

高精度采样模式,采集到的波形幅度为-150mv- 150mv。
在计算机上用
excel
软件
440
打开编辑采集后的波形,首先将此正负波形数据在
excel
中数据处理变换为
0-300mv
的正的波形数据,再将波形数据除以2,就得到
0-150mv
的波形数据,以上完成了测试波形的获取

44.刷卡测试波形的产生,具体实施方法为:结合图1和图2,通过示波器采集

数字化并后续计算得到的
0-150mv
的波形数据,需要用
32bit mcu
模块 110
片内的
12bit 双通道
dac 230
重构刷卡波形

由于重构刷卡波形所用的
dac

12bit
,其基准电压连接至
2.5v
基准源,因此,
0-150mv
的波形数据
(wave1)
需要转换为十六进制数据并存储于测试波形存储
flash 220
,转换公式为:
(wave1/2.5)*2
12
,

(wave1/2.5)*4096
,转换好的测试波形数据依据刷卡波形中编码规则特征,从波形数据中提取“逻辑
1”和“逻辑
0”的波形数据, 将“逻辑
1”和“逻辑
0”所对应的波形数据,在编写测试程序阶段按照特定地址被分配到测试波形数据存储
flash 220。
实际工作时,将“逻辑
1”和“逻辑
0”所对应的波形数据以不同位置以及数量加以排列组合,就得到了任意数据的刷卡波形,
32bit mcu
模块
210
控制
mcu
片内的
dma
模块
240
, dma
模块
240
按照顺序以一定
clk
时钟频率fs
对测试波形存储
flash 220
进行寻址,将所得波形数据传输给
12bit
内置双通道
dac 230
,经过
dac
模数转换后,最终从
32bit mcu 110

dac
端口输出模拟测试波形,改变时钟频率fs
,可以改变刷卡波形的频率,从而模拟人实际刷卡速度的快慢

45.刷卡测试波形的信号调理,具体实施方法为:结合图
1、
图5和图6,从
32bit mcu110

dac
端口输出的模拟测试波形,带有微小的阶梯以及高频噪声,需要加以平滑和滤波


图五,波形的平滑和滤波由一阶
rc
低通滤波器
520
完成,其截至频率设为
3.4khz。
由于从
32bit mcu 110

dac
端口输出模拟测试波形为单端波形,需要转换为适合被测电路的差分信号,经过一阶滤波器
520
后的波形分为两路,一路送入正向缓冲器
530
,另外一路送入单位增益反向放大器
510
,两路信号分别经过隔直电容
540
后,经由
2.5v
共模电压设置电路
550
设置好共模电压,
wave_out-和
wave_out
输出相位相反

交流幅度
150mv、
共模电压为
2.5v
的刷卡测试波形,具体见图6,一阶滤波后的波形
610
, wave_out
信号调理电路输出波形正极性端
620
为差分信号中的共模电压为
2.5v、
交流幅度为
150mv
的正极性刷卡波形,
wave_out-信号调理电路输出波形负极性端
630
差分信号中的共模电压为
2.5v、
交流幅度为
150mv
的负极性刷卡波形,最终得到
2.5v
共模电压

差分幅度为
300mv
的差分信号,以上完成了刷卡测试波形的产生

46.测试被测磁条卡信息读取电路
140
内部放大电路增益所需的正弦波数据的获取方法有多种,正弦波函数为常用函数,为本领域技术人员所熟知,这里不再赘述

所需的测试正弦波波形的产生及后续信号调理与刷卡测试波形的产生和信号调理的实施方法一样,所区别的是,正弦波的幅度为
50mv, 频率为
1khz,最终得到
2.5v
共模电压

差分幅度为
100mv
的差分正弦波信号,所以这里也不作重复说明

47.当测试被测磁条卡信息读取电路
140
的解码功能时,如图1,具体实施方法和电路为:
110-32bit mcu
模块通过片内的
dma
控制器以一定顺序和采样时钟
clk
访问存储于片内
flash
的刷卡波形数据,并将波形数据传输到片内的
12 bit
内置双通道
dac 230

dac
模数转换后,产生的
150mv
波形经过测试波形调理电路
160

dac
输出的单端信号经过一阶滤波平滑后,去除高频干扰的同时将单端信号转换为幅度为
300mv
的差分信号,此差分信号与实际刷卡后磁头产生的信号一样,满足
iso7811-2
规范

此差分信号连接至被测磁条卡信息读取电路
140
的输入端,被测磁条卡信息读取电路
140
根据输入的刷卡波形解码出“逻辑
1”和“逻辑
0”, 32bit mcu
模块
110
通过被测磁条卡信息读取电路
140
的串行接口读取解码后的数据,完成对被测磁条卡信息读取电路
140
解码功能测试

48.当测试被测磁条卡信息读取电路
140
内部放大器的增益时,结合图1和图8,具体实施方法和电路为: 32bit mcu
模块
110
通过片内的
dma
控制器以一定顺序和采样时钟
clk
访问存储于片内
flash

1khz正弦波波形数据,并将数据传输到片内的
12 bit dac
,产生的
50mv
波形经过测试波形调理电路
160

dac
输出的单端信号经过一阶滤波平滑后,去除高频干扰的同时将单端信号转换为幅度为
100mv
的差分信号,此差分信号连接至被测磁条卡信息读取电路
140
的输入端,经过被测磁条卡信息读取电路
140
内部放大电路放大的信号输出至
rms-dc
转换电路
150

rms-dc
转换电路
150
将放大后的
1khz正弦波转换为真有效值相对应的直流信号,
32bit mcu
模块
110
控制片内的
12bit adc
完成对
rms-dc
转换后的直流信号的采样

采样后的直流电平经过计算得到放大后的
1khz正弦波的幅度为
vout
p-p
=v
rms
*2*√2
,除以放大器的输入信号的峰峰值幅度,就得出了被测磁条卡信息读取电路
140
内部放大电路的增益,具体如公式:
gain=vout
p-p
/v
in

图8为具体的
rms-dc
电路,包括直流偏置电阻网络
810

rms-dc
电路
820

ac_in
接收来自被测磁条卡信息读取电路
140
的放大器输出的正弦波信号,
c5
为隔直电容,以消除正弦波信号中的直流分量对于
rms-dc
转换的影响,电阻
r20

r21

rms-dc
电路内部的电路提供
2.5v
的偏置电压工作点,
dc_out

rms-dc
转换后的直流电压输出端

49.当测试被测磁条卡信息读取电路
140

idd
电流时,结合图1和图7加以说明,具体实施方法和电路为:
idd
电流测试采用高边
(high-side)
电流测试方案,流经被测磁条卡信息读取电路
140

idd
电流经过
50
欧采样电阻
r11
被采样并转换为电压,送入
idd
电流测量电路
170

idd
电流测量电路
170
采用低输入偏置电流的运放和采用三运放结构,提高了测量精度,采用的运放为
rrio(
轨至轨输入和输出
)
运放,进一步扩展了
idd
电流可测试量程
。idd
电流测量电路
170
的输出电压经过
32bit mcu
模块
110
内部
12bit adc
采样后,由公式
i=v/r
计算得到
idd
电流

图7为
idd
测量具体实施电路,单位增益缓冲器
710
采用输入偏置电流小

失调电压小
、rrio
的运放组成,这种结构具有极高的输入阻抗,偏置电流极小,消除了运放偏置电流对于
idd
测量所引起的测量误差,同时,较小的失调电压,提高了
idd
测量精度,采用
rrio
运放,扩展了
idd
电流测量范围

差分放大器
720
将流经
r11
的电压转换为单端电压,方便
mcu
内部的
adc
采样
。0.5v
偏置电压产生电路
730

r16-r19
电阻网络和运放
u4
产生,为差分放大器
720
提供精确稳定的偏置电压,当流经
r11
采样电阻的电流很小时,差分放大器
720
的输出端
idd_out
在没有
0.5v
偏置电压情况下输出趋向于
0v
,虽然
u3

rrio
运放,也不能输出接近于
0v
的电压,因此会产生测量误差

所以,这里加上
0.5v
偏置电压,当
idd
电流很小时,差分放大器
720
的输出端
idd_out
的输出端输出接近于
0.5v

rrio
运放输出指标完全覆盖此电压,能精确输出此电压,消除了测量误差

实际测试时,采集到的电压减去
0.5v
就得到
r11
采样电阻上的真实电压,除以
50
欧阻值,从而能精确测量被测磁条卡信息读取电路
140

idd
电流值
。k1
为作为采样电阻开关
740
的继电器,当测试被测电路的
idd
电流时,
k1
连接
r11
电流采样电阻

当测试被测电路其它功能和参数时,
k1
直接连接到被测电路的电源端,以消除
r11
上微小电压对于精确测试被测电路功能和参数的影响

50.综上,可得到磁条卡信息读取电路的测试方法以及具体测试电路,包括测试被测电路解码功能的测试方法和电路

包括测试被测电路解码功能所需的刷卡波形获取和产生方法及其电路

包括测试被测电路内部放大器增益所需的正弦波波形获取和产生方法及其电路

包括测试被测电路所需的波形滤波以及单端信号转差分信号的方法及其电路

包括精确测试被测电路
idd
电流的方法及其电路

通过上述测试方法及其电路,本发明提供了一种针对磁条卡信息读取电路的实用性强

成本低廉以及可以大批量的测试方法,克服了传统
ate
测试设备的不足,满足了生产中的大批量测试产能需求

51.在此说明书中,本发明已参照其特定的实施例作了描述

但是,很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围

因此,说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的

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